Přístupnostní navigace
E-application
Search Search Close
Project detail
Duration: 01.01.2018 — 31.12.2019
Funding resources
Technologická agentura ČR - Program na podporu aplikovaného výzkumu ZÉTA
- whole funder (2018-01-10 - 2019-12-31)
On the project
Projekt je zaměřen na rozšíření spolupráce CEITEC VUT skupiny Příprava a charakterizace nanostruktur a spin-off firmy NenoVision do oblasti aplikovaného výzkumu aplikací využívajících novou techniku korelativního měření CPEM (Correlative Probe and Electron Microscopy). Technologie vyvinutá NenoVision využívá dvou typů standardních nástrojů analýzy, a to skenovací sondové mikroskopie (SPM) a elektronové mikroskopie (SEM) a je využívána pro charakterizaci povrchu vzorků v oblasti nanotechnologií, polovodičového průmyslu, solárních článků a materiálových věd.
KeywordsAFM, SPM, SEM, korelativní zobrazování, nanotechnologie, charakterizace povrchu
Mark
TJ01000434
Default language
Czech
People responsible
Hegrová Veronika - fellow researcherMajerová Irena, Ing. - fellow researcherSpousta Jiří, prof. RNDr., Ph.D. - fellow researcherKonečný Martin, Ing., Ph.D. - principal person responsible
Units
Fabrication and Characteris. of Nanostr.- (2017-05-05 - not assigned)
Results
KONEČNÝ, M. Seznam a popis vybraných aplikací a vzorků pro další testování. 2019.Detail
NOVOTNÁ, V., HORÁK, J., KONEČNÝ, M., HEGROVÁ, V., NOVOTNÝ, O., NOVÁČEK, Z., NEUMAN, J. AFM-in-SEM as a Tool for Comprehensive Sample Surface Analysis. Microscopy Today, 2020, vol. 28, no. 3, p. 38-46. ISSN: 2150-3583.Detail
SOBOLA, D.; RAMAZANOV, S.; KONEČNÝ, M.; ORUDZHEV, F.; KASPAR, P.; PAPEŽ, N.; KNÁPEK, A.; POTOČEK, M. Complementary SEM-AFM of Swelling Bi-Fe-O Film on HOPG Substrate. Materials, 2020, vol. 13, no. 1, p. 1-15. ISSN: 1996-1944.Detail