Přístupnostní navigace
E-application
Search Search Close
Project detail
Duration: 01.01.2003 — 31.12.2003
On the project
Snahou tohoto projektu bude navržení co nejkomplexnější metodiky pro vytváření plánu testu a uplatnění této metodiky pro vestavné systémy s cílem omezení příkonu testovacích obvodů v průběhu aplikace testu.
Description in EnglishThe purpose of this project will be to design the most complex methodology for test plan and exercise of this methodology for embedded systems with goal to restrict power of tested circuits during test application.
KeywordsTAM, BIST, ASIC, TPG, VHDL
Key words in EnglishTAM, BIST, ASIC, TPG, VHDL
Mark
FR834/2003/G1
Default language
Czech
People responsible
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc. - fellow researcherMika Daniel, Ing., Ph.D. - principal person responsible
Results
MIKA, D. Uplatnění formálních postupů při návrhu řadiče testu číslicového systému. In Počítačové Architektury & Diagnostika Pracovní seminář pro studenty doktorského studia Sborník příspěvků. Brno: Fakulta informačních technologií VUT v Brně, 2003. s. 17-23. ISBN: 80-214-2471-0.Detail
MIKA, D., KOTÁSEK, Z. Proc. of IFAC Workshop on Programmable Devices and Systems Conference. In Proc. of IFAC Workshop on Programmable Devices and Systems Conference. Ostrava: Faculty of Electrical Engineering and Computer Science, VSB-TU Ostrava, 2003. p. 447-452. ISBN: 0-08-044130-0.Detail
KOTÁSEK, Z., MIKA, D., STRNADEL, J. Test scheduling for embedded systems. In Proceedings EUROMICRO Symposium on Digital System Design - Architectures, Methods and Tools DSD 2003. Belek: IEEE Computer Society Press, 2003. p. 463-467. ISBN: 0-7695-2003-0.Detail
MIKA, D. The Test Controller Design Based on I-Path Concept. In Proceedings of 9th Conference and Competition STUDENT EEICT 2003 Volume 3. Brno: Faculty of Electrical Engineering and Communication BUT, 2003. p. 624-628. ISBN: 80-214-2379-X.Detail
MIKA, D., KOTÁSEK, Z. The Test Controller Model Based on The Timed Automaton. In Proceedings of 37th International Conference MOSIS´03 Modelling and Simulation of Systems. Ostrava: 2003. p. 107-114. ISBN: 80-85988-86-0.Detail
KOTÁSEK, Z., MIKA, D., STRNADEL, J. Proceeding of IEEE Workshop on Design and Diagnostic of Electronic Circuits and Systems. In Proceeding of IEEE Workshop on Design and Diagnostic of Electronic Circuits and Systems. Poznaň: Publishing House of Poznan University of Technology, 2003. p. 233-238. ISBN: 83-7143-557-6.Detail