Publikace
2025
FREY, M.; PICKER, J.; NEUMANN, CH.; VIŠŇÁK, J.; MACHÁČEK, J.; TOK, O. L.; BÁBOR, P.; BAŠE, T.; TURCHANIN, A. Carborane Nanomembranes. ACS Nano, 2025, roč. 19, č. 8,
s. 8131-8141. ISSN: 1936-0851.
Detail | WWW2024
Zhang, ZH.; Zhou, LW.; Chen, ZX.; Jaros, A.; Kolíbal, M.; Bábor, P.; Zhang, QZ.; Yan, CL.; Qiao, RX.; Zhang, Q.; Zhang, T.; Wei, W.; Cui, Y.; Qiao, JS.; Liu, LW.; Bao, LH; Yang, HT.; Cheng, ZH.; Wang, YL.; Wang, EG.; Liu, Z.; Willinger, M.; Gao, HJ.; Liu, KH.; Ji, W.; Wang, ZJ. Layer-by-layer growth of bilayer graphene single-crystals enabled by proximity catalytic activity. Nano Today, 2024, roč. 59, č. 102482, ISSN: 1878-044X.
Detail | WWW2023
Wang, ZJ.; Kong, X.; Huang, YA.; Li, J.; Bao, LH.; Cao, KC.; Hu, YX.; Cai, J.; Wang, LF.; Chen, H.; Wu, YS.; Zhang, YW.; Pang, F.; Cheng, ZH.; Babor, P.; Kolibal, M.; Liu, ZK.; Chen, YL.; Zhang, Q.; Cui, Y.; Liu, KH.; Yang, HT.; Bao, XH.; Gao, HJ.; Liu, Z.; Ji, W.; Ding, F.; Willinger, MG. Conversion of chirality to twisting via sequential one-dimensional and two-dimensional growth of graphene spirals. Nature Materials, 2023, roč. 1, č. 1,
s. 1-205. ISSN: 1476-4660.
Detail | WWWUKROPCOVÁ, I.; DAO, R.; ŠTUBIAN, M.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T.; WILLINGER, M.; WANG, Z.; ZLÁMAL, J.; BÁBOR, P. Electron Tractor Beam: Deterministic Manipulation of Liquid Droplets on Solid Surfaces. Advanced Materials Interfaces, 2023, roč. 10, č. 2, ISSN: 2196-7350.
Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně2022
Sen, HS.; Daghbouj, N.; Callisti, M.; Vronka, M.; Karlik, M.; Duchon, J.; Cech, J.; Lorincik, J.; Havranek, V.; Babor, P.; Polcar, T. Interface-Driven Strain in Heavy Ion-Irradiated Zr/Nb Nanoscale Metallic Multilayers: Validation of Distortion Modeling via Local Strain Mapping. ACS applied materials & interfaces, 2022, roč. 14, č. 10,
s. 12777-12796. ISSN: 1944-8252.
Detail | WWW2021
MACKOVÁ, A.; FERNANDES, S.; MATĚJÍČEK, J.; VILÉMOVÁ, M.; HOLÝ, V.; LIEDKE, M.O.; MARTAN, J.; VRONKA, M.; POTOČEK, M.; BÁBOR, P.; BUTTERLING, M.; ATTALLAH, A.G.; HIRSCHMANN, E.; WAGNER, A.; HAVRANEK, V. Radiation damage evolution in pure W and W-Cr-Hf alloy caused by 5 MeV Au ions in a broad range of dpa. Nuclear Materials and Energy, 2021, roč. 29, č. 1,
s. 101085-1 (101085-15 s.) ISSN: 2352-1791.
Detail | WWWDAGHBOUJ, N.; CALLISTI, M.; SEN, H. S.; KARLIK, M.; ČECH, J.; VRONKA, M.; HAVRÁNEK, V.; ČAPEK, J.; MINÁRIK, P.; BÁBOR, P.; POLCAR, T. Interphase boundary layer-dominated strain mechanisms in Cu+ implanted Zr-Nb nanoscale multilayers. Acta materialia, 2021, roč. 202, č. 1,
s. 317-330. ISSN: 1359-6454.
Detail | WWWVANĚK, T., HÁJEK, F., DOMINEC, F., HUBÁČEK, T., KULDOVÁ, K., PANGRÁC, J., KOŠUTOVÁ, T., KEJZLAR, P., BÁBOR, P., LACHOWSKI, A., HOSPODKOVÁ, A. Luminescence redshift of thick InGaN/GaN heterostructures induced by the migration of surface adsorbed atoms. JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH, 2021, roč. 565, č. 1,
s. 126151-126151. ISSN: 0022-0248.
Detail | WWWUKRAINTSEV, E.; KROMKA, A.; JANSSEN, W.; HAENEN, K.; TAKEUCHI, D.; BÁBOR, P.; REZEK, B. Electron emission from H-terminated diamond enhanced by polypyrrole grafting. CARBON, 2021, roč. 176, č. 1,
s. 642-649. ISSN: 0008-6223.
Detail | WWW2019
HOLEŇÁK, R.; SPUSTA, T.; POTOČEK, M.; SALAMON, D.; ŠIKOLA, T.; BÁBOR, P. 3D localization of spinel (MgAl2O4) and sodium contamination in alumina by TOF-SIMS. MATERIALS CHARACTERIZATION, 2019, roč. 148, č. 1,
s. 252-258. ISSN: 1044-5803.
Detail | WWWGRÉZLOVÁ, V.; MICHLOVSKÁ, L.; ŠMERKOVÁ, K.; KOPEL, P.; ADAM, V.; KOČIOVÁ, S.; BÁBOR, P.; DIVIŠ, P.; VOJTOVÁ, L. Antibacterial Selenium Nanoparticles and their Effect on Properties of Polymer-Phosphate Bone Cement. eCM Periodical. eCM Periodical, 2019.
s. 26-26. ISSN: 2522-235X.
Detail | WWWGRÉZLOVÁ, V.; MICHLOVSKÁ, L.; ŠMERKOVÁ, K.; KOPEL, P.; ADAM, V.; KOČIOVÁ, S.; BÁBOR, P.; DIVIŠ, P.; VOJTOVÁ, L. Antibacterial polymer-phosphate bone cement targeted on the osteomyelitis treatment. Czech Chemical Society Symposium Series 17 (1) XIX. Interdisciplinary Meeting of Young Biologists, Biochemists and Chemists. Czech chemical society symposium series. Praha: Czech Chemical Society, 2019.
s. 11-11. ISSN: 2336-7202.
Detail | WWWKUNC, J.; REJHON, M.; DĚDIČ, V.; BÁBOR, P. Thickness of sublimation grown SiC layers measured by scanning Raman spectroscopy. Journal of Alloys and Compounds, 2019, roč. 789, č. 1,
s. 607-612. ISSN: 0925-8388.
Detail | WWW2018
ŠIK, O.; BÁBOR, P.; POLČÁK, J.; BELAS, E.; MORAVEC, P.; GRMELA, L.; STANĚK, J. Low Energy Ion Scattering as a depth profiling tool for thin layers - Case of bromine Methanol etched CdTe. Vacuum, 2018, č. 152,
s. 138-144. ISSN: 0042-207X.
Detail | WWWGRÉZLOVÁ, V.; VOJTOVÁ, L.; MICHLOVSKÁ, L.; ŠMERKOVÁ, K.; KOPEL, P.; ADAM, V.; KOČIOVÁ, S.; BÁBOR, P.; DIVIŠ, P. Thixotropic polymer-phosphate bone filler modified with antibacterial selenium nanoparticles. Biomateriály a jejich povrchy XI. Praha: České vysoké učení technické v Praze, 2018.
s. 75-76. ISBN: 978-80-01-06471-9.
DetailGRÉZLOVÁ, V.; MICHLOVSKÁ, L.; ŠMERKOVÁ, K.; KOPEL, P.; ADAM, V.; KOČIOVÁ, S.; BÁBOR, P.; DIVIŠ, P.; POLÁČEK, P.; VOJTOVÁ, L. The Effect Of Antibacterial Selenium Nanoparticles On The Properties Of Polymer-Phosphate Bone Fillers. 7th Meeting on Chemistry and Life 2018. Book of abstracts. Brno: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta chemická, Purkyňova 464/118, 612 00 Brno, 2018.
s. 136-136. ISBN: 978-80-214-5488-0.
DetailBÁBOR, P. Komparativní analýza vrstevnatých struktur metodou SIMS. 2018.
s. 1 (1 s.).
Detail2017
JIANG, L.; XIAO, N.; WANG, B.; GRUSTAN-GUTIERREZ, E.; JING, X.; BÁBOR, P.; KOLÍBAL, M.; LU, G.; WU, T.; WANG, H.; HUI, F.; SHI, Y.; SONG, B.; XIE, X.; LANZA, M. High-resolution characterization of hexagonal boron nitride coatings exposed to aqueous and air oxidative environments. Nano Research, 2017, roč. 10, č. 6,
s. 2046-2055. ISSN: 1998-0000.
Detail | WWW2016
BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIKOLA, T. Příprava vzorků pro testování rozlišení. Brno: 2016.
s. 1-14.
DetailŠIK, O.; BÁBOR, P.; ŠKARVADA, P.; POTOČEK, M.; TRČKA, T.; GRMELA, L.; BELAS, E. Investigation of the effect of argon ion beam on CdZnTe single crystals surface structural properties. Surface and Coatings Technology, 2016, roč. 306, č. A,
s. 75-81. ISSN: 0257-8972.
Detail | WWW2015
BÁBOR, P.; DUDA, R.; POLČÁK, J.; PRŮŠA, S.; POTOČEK, M.; VARGA, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Real-time observation of self-limiting SiO2/Si decomposition catalysed by gold silicide droplets. RSC Advances, 2015, roč. 5, č. 123,
s. 101726-101731. ISSN: 2046-2069.
DetailPRŮŠA, S.; PROCHÁZKA, P.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T.; TER VEEN, R.; FARTMANN, M.; GREHL, T.; BRÜNER, P.; ROTH, D.; BAUER, P.; BRONGERSMA, H. Highly Sensitive Detection of Surface and Intercalated Impurities in Graphene by LEIS. Langmuir, 2015, roč. 31, č. 35,
s. 9628-9635. ISSN: 0743-7463.
Detail2014
STEVIE, F.; SEDLÁČEK, L.; BÁBOR, P.; JIRUŠE, J.; PRINCIPE, E.; KLOSOVÁ, K. FIB-SIMS quantification using TOF- SIMS with Ar and Xe plasma sources. Surface and Interface Analysis, 2014, roč. 46, č. S1,
s. 285-287. ISSN: 0142- 2421.
Detail2013
BER, B.; BÁBOR, P.; BRUNKOV, P.; CHAPON, P.; DROZDOV, M.; DUDA, R.; KAZANTSEV, D.; POLKOVNIKOV, V.; YUNIN, P.; TOLSTOGOUZOV, A. Sputter depth profiling of Mo/B4C/Si and Mo/Si multilayer nanostructures: A round- robin characterization by different techniques. Thin Solid Films, 2013, roč. 540, č. 1,
s. 96-105. ISSN: 0040- 6090.
Detail2011
BÁBOR, P.; LYSÁČEK, D.; ŠIK, J. Polycrystalline Silicon Layers with Enhanced Thermal Stability. Solid State Phenomena, 2011, roč. 178- 179, č. 385,
s. 385-391. ISSN: 1662- 9779.
DetailBÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; MATLOCHA, T.; KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T. Depth resolution enhancement by combined DSIMS and TOF- LEIS profiling. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2011, roč. 269, č. 3,
s. 369-373. ISSN: 0168- 583X.
DetailBÁBOR, P.; MAŠEK, K. Metody povrchové a tenkovrstvové analýzy prvkového složení (XPS, AES, SIMS), dirfrakce elektronů. Materials Structure, 2011, roč. 2011, č. 18,
s. 251-257. ISSN: 1211- 5894.
Detail2010
MATLOCHA, T.; PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; PRIMETZHOFER, D.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. A study of a LEIS azimuthal scan behavior: Classical dynamics simulation. Surface Science, 2010, roč. 604, č. 21- 22,
s. 1906-1911. ISSN: 0039- 6028.
DetailPOLČÁK, J.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; URBÁNEK, M.; PRŮŠA, S.; ŠIKOLA, T. Angle-resolved XPS depth profiling of modeled structures: testing and improvement of the method. Surface and Interface Analysis, 2010, roč. 42, č. 5- 6,
s. 649-652. ISSN: 0142- 2421.
DetailČECHAL, J.; POLČÁK, J.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Formation of copper islands on a native SiO2 surface at elevated temperatures. Applied Surface Science, 2010, roč. 256, č. 11,
s. 3636-3641. ISSN: 0169- 4332.
DetailURBÁNEK, M.; UHLÍŘ, V.; BÁBOR, P.; KOLÍBALOVÁ, E.; HRNČÍŘ, T.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Focused ion beam fabrication of spintronic nanostructures: an optimization of the milling process. NANOTECHNOLOGY, 2010, roč. 21, č. 14,
s. 145304- 1 (145304-7 s.) ISSN: 0957-4484.
Detail2009
POLČÁK, J.; BÁBOR, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Manipulátor vzorku pro rentgenovou fotoelekronovou spektroskopii do velmi vysokého vakua. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7- 8,
s. 215-216. ISSN: 0447- 6441.
DetailMAŠEK, K.; VÁCLAVŮ, M.; BÁBOR, P.; MATOLÍN, V. Sn-CeO2 thin films prepared by rf magnetron sputtering: XPS and SIMS study. Applied Surface Science, 2009, roč. 255, č. 13- 14,
s. 6656-6660. ISSN: 0169- 4332.
DetailBÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; MATLOCHA, T.; KOLÍBAL, M.; KALOUSEK, R.; NEUMAN, J.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T. Mechanika iontů jako prostředek k analýze nanosvěta. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7- 8,
s. 209-214. ISSN: 0447- 6441.
DetailPOTOČEK, M.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Využití termální desorpční spektroskopie při studiu povrchové kontaminace. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7- 8,
s. 217-218. ISSN: 0447- 6441.
Detail2007
PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Analysis of thin films by TOF- LEIS. ACTA PHYSICA POLONICA A, 2007, roč. 111, č. 3,
s. 335-341. ISSN: 0587- 4246.
DetailČECHAL, J.; MACH, J.; VOBORNÝ, S.; KOSTELNÍK, P.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. A study of Ga layers on Si(100)-(2x1) by SR-PES: influence of adsorbed water. Surface Science, 2007, roč. 601, č. 9,
s. 2047-2053. ISSN: 0039- 6028.
Detail2006
KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; PLOJHAR, M.; BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; TOMANEC, O.; KOSTELNÍK, P.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. In situ Analysis of Ga-ultra Thin Films by ToF- LEIS. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2006, roč. 249, č. 1- 2,
s. 318-321. ISSN: 0168- 583X.
Detail2005
BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; URBÁNEK, M.; MACH, J.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; SOBOTA, J.; BOCHNÍČEK, Z.; ŠIKOLA, T. Depth Profiling of Ultrathin Films and Their Multilayers by DSIMS. 1. Manchester: 2005.
s. 178-178.
DetailBÁBOR, P.; POTOČEK, M.; URBÁNEK, M.; MACH, J.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; SOBOTA, J.; BOCHNÍČEK, Z.; ŠIKOLA, T. Depth Profiling of Ultrathin Films and Their Multilayers by DSIMS. 1. Seville: 2005.
DetailVOBORNÝ, S.; MACH, J.; POTOČEK, M.; KOSTELNÍK, P.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Analysis of GaN Ultrathin Films grown by Direct Ion Beam Deposition. 1. Vienna: 2005.
s. 117-117.
DetailČECHAL, J.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. A Study of Gallium Growth on Si(111) 7x7 by SRPES. 1. Vienna: 2005.
s. 259-259.
DetailKOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; TOMANEC, O.; POTOČEK, M.; ČECHAL, J.; KOSTELNÍK, P.; PLOJHAR, M.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. Application of ToF LEIS for Monitoring the growth and thermal treatment of Ga ultrathin films. 1. Vienna: 2005.
s. 191-191.
DetailKOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; PLOJHAR, M.; BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; TOMANEC, O.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. In situ Analysis of Ga-ultra Thin Films by TOF- LEIS. 1. Seville: 2005.
Detail2004
KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Low energy ion scattering as a method for surface structure analysis. Jemná mechanika a optika, 2004, roč. 9, č. 9,
s. 262 ( s.) ISSN: 0447- 6441.
DetailKOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., BÁBOR, P., BARTOŠÍK, M., TOMANEC, O., ŠIKOLA, T. Growth of gallium on sillicon: A TOF- LEIS and AFM study. In New Trend in Physics. Brno: VUT v Brně, 2004.
s. 230 ( s.) ISBN: 80-7355-024- 5.
DetailVOBORNÝ, S., MACH, J., KOLÍBAL, M., ČECHAL, J., BÁBOR, P., POTOČEK, M., ŠIKOLA, T. A study of Early Periods of GaN Ultrathin Film Growth. In New Trends in Pysics. Brno: VUT v Brně, 2004.
s. 270 ( s.) ISBN: 80-7355-024- 5.
DetailVOBORNÝ, S.; MACH, J.; ČECHAL, J.; KOSTELNÍK, P.; TOMANEC, O.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Application of Complex UHV Apparaturus in a Study of Low-tepmerature Gallium- nitride Ultrathin Film Growth. Jemná mechanika a optika, 2004, roč. 9, č. 9,
s. 265 ( s.) ISSN: 0447- 6441.
DetailKOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. ToF-LEIS Analysis of ultra thin films: Ga and Ga-N layer growth on Si(111). Surface Science, 2004, roč. 566- 568, č. 9,
s. 885 ( s.) ISSN: 0039- 6028.
DetailVOBORNÝ, S.; KOLÍBAL, M.; MACH, J.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; PRŮŠA, S.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Deposition and in-situ charakterization of ultra- thin films. Thin Solid Films, 2004, roč. 459, č. 1- 2,
s. 17 ( s.) ISSN: 0040- 6090.
Detail2003
BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Zobrazení iontovým svazkem a 2D SIMS. Jemná mechanika a optika, 2003, roč. 48, č. 6,
s. 178 ( s.) ISSN: 0447- 6441.
DetailBÁBOR, P. Hloubkové profilování a 2D SIMS – současný stav. In Zpravodaj CVS 11(2). Praha: CVS, 2003.
s. 23 ( s.)
DetailBÁBOR, P., KOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T. Application of a simple imaging system in SIMS and TOF LEIS. In ECOSS 22 CD. Praha: FÚ AV ČR, 2003.
s. 0 ( s.)
DetailPRŮŠA, S., KOLÍBAL, M., BÁBOR, P., MACH, J., JURKOVIČ, P., ŠIKOLA, T. Analysis of thin films by TOF LEIS. In EVC' 03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003.
s. 133 ( s.)
DetailKOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., BÁBOR, P., BAUER, P., ŠIKOLA, T. TOF-LEIS analysis of ultra thin films: Ga- and Ga-N layer growth on Si (111). In ECOSS 22 CD. Praha: FÚ AV ČR, 2003.
s. 0 ( s.)
DetailVOBORNÝ, S., KOLÍBAL, M., MACH, J., ČECHAL, J., BÁBOR, P., PRŮŠA, S., SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T. Deposition and in situ characterization of ultra- thin films. In EVC' 03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003.
s. 45 ( s.)
Detail2002
ŠIKOLA, T., LOPOUR, F., BÁBOR, P., BUŠ, V., ŠKODA, D., DUARTE, J. Application of SPM in surface studies and nanotechnology. 2002, roč. 47, č. 6- 7,
s. 210 ( s.) ISSN: 0447- 6411.
DetailTICHOPÁDEK, P., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., NAVRÁTIL, K., ČECHAL, J., JURKOVIČ, P., BÁBOR, P. A Study of Thin Oxide Films by Ellipsometry and AR XPS. Surface and Interface Analysis, 2002, roč. 34, č. 1,
s. 531 ( s.) ISSN: 0142- 2421.
Detail2001
JURKOVIČ, P., ŠIKOLA, T., BÁBOR, P., ČECHAL, J. Studium ultratenkých vrstevnatých struktur. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001.
s. 364 ( s.) ISBN: 80-214-1992- X.
DetailPRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P., JURKOVIČ, P., ČECHAL, J. Application of TOF - LEIS and XPS for Surface Studies. In Materials Structure & Micromechanics of Fracture (MSMF-3). Brno: Vutium, 2001.
s. 486 ( s.) ISBN: 80-214-1892- 3.
DetailVOBORNÝ, S., ZLÁMAL, J., BÁBOR, P. Deposition of Ultrathin Films - Optimalisation of Ion Beam Optics. In Juniormat ' 01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001.
s. 281 ( s.)
DetailVOBORNÝ, S., ŠIKOLA, T., PRŮŠA, S., ZLÁMAL, J., BÁBOR, P. Diagnostics and optimization of ion source parameters. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001.
s. 304 ( s.) ISBN: 80-214-1992- X.
DetailPRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., BÁBOR, P. Application of ToF - LEIS for Analysis of Surfaces and Ultra Thin Films. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001.
s. 404 ( s.) ISBN: 80-214-1992- X.
DetailPRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P. Ion Scattering Spectrosopy - A Tool for Surface Analysis. In Juniormat ' 01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001.
s. 86 ( s.)
DetailBÁBOR, P. Analýza povrchů tenkých vrstev metodou SIMS. In Juniormat ' 01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001.
s. 131 ( s.)
DetailBÁBOR, P. Analýza povrchů a tenkých vrstev metodu SIMS. In Juniormat ' 01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001.
s. 131 ( s.)
Detail2000
BÁBOR, P. In-situ monitorování povrchu pevných látek bombardovaných iontovým svazkem – návrh energiového filtru pro aplikaci v SIMS. In II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI. Brno: Vutium, 2000.
s. 13 ( s.)
DetailLOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., BÁBOR, P., DUARTE, J., MATĚJKA, F. Etching of Microstructures and Modification of Solid Surfaces by Low Energy Ion Beams. In MicroMat 2000. Berlin: Editors: B. Michel, T. Winkler, M. Werner,H. Fecht, 2000.
s. 919 ( s.)
Detail
*) Citace publikací se generují jednou za 24 hodin.